超聲波探傷儀試塊的種類(lèi)及用途

在超聲波探傷儀檢測(cè)中，常常采用與已知量相比較的方法來(lái)確定被檢物的狀況。例如在射線探傷中，是以透度計(jì)的影像來(lái)作為比較的依據(jù)。超聲波探傷中是以試塊作為比較的依據(jù)。試塊上有各種已知的特征，例如特定的尺寸，規(guī)定的人工缺陷，即某一尺寸的平底孔、橫通孔、凹槽等。用試塊作為調(diào)節(jié)儀器、定量缺陷的參考依據(jù)，是超聲波探傷的一個(gè)特定。超聲波探傷的發(fā)展，已知與試塊的研制、使用分不開(kāi)。

超聲波探傷儀試塊的用途

確定合適的探傷方法：在超聲波探傷中，可以應(yīng)用在某個(gè)部位有某種人工缺陷的試塊來(lái)摸索探傷。在這種試塊上摸到的探傷規(guī)律和方法，可應(yīng)用到與試塊同材質(zhì)。同形狀。同尺寸的工件探傷中去。

確定探傷靈敏度和評(píng)價(jià)缺陷大小：對(duì)于不同種類(lèi)，不同厚度、不同要求的工件，需要不同的探傷靈敏度。為了確定探傷時(shí)的靈敏度，就需要帶有各種人工缺陷的試塊。用人工缺陷的波高來(lái)表示探傷靈敏度。這是試塊常用的一種方法。為了評(píng)價(jià)工件中某一深度缺陷大小，用試塊中同一深度各種尺寸的人工缺陷與之相比較，這就是探傷中應(yīng)用的缺陷當(dāng)量法。

效驗(yàn)儀器和測(cè)試探頭性能：通過(guò)試塊可以測(cè)試儀器聲或探頭的性能，以及儀器和探頭鏈接在儀器的系統(tǒng)綜合性能。

超聲波探傷儀試塊的種類(lèi)

根據(jù)試塊的用途，試塊可以分為三大類(lèi)：

1、調(diào)節(jié)儀器及測(cè)試探頭的試塊，如CSK-IA試塊。

2、縱波探傷用試塊，人工缺陷為平底孔。

3、橫波探傷用試塊，人工缺陷為橫孔，如JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的CSK-ⅡA和ⅢA試塊。